آزمون لایه نازک

پراش پرتو ایکس در لایه‌های نازک :

لایه‌های نازک به پوشش‌هایی گفته می شود که ضخامت آنها کمتر از چند میکرون است.
برای شناسایی ساختار کریستالی این لایه‌ها از روش گریزینگ (Grazing Incident Beam) استفاده می‌گردد. در این روش زاویه برخورد پرتو ایکس به نمونه (Θs) در زاویه‌ای بین ۰ تا ۱۰ درجه ثابت نگهداشته می‌شود. هر قدر زاویه برخورد کوچک‌تر انتخاب شود عمق نفوذ پرتو ایکس در نمونه کمتر است بنابراین لایه‌های سطحی‌تری از ماده را شناسایی می‌کند.

علاوه بر قابلیت دستگاه، تجهیزات دیگری نیز لازم است تا بتوان با دقت و صحت بسیار ساختار کریستالی این لایه ها را شناسایی نمود. شرکت نقش پراش صنعتی اصفهان با دراختیار داشتن دانش، تجربه و تجهیزات لازم توانایی آنالیز فازی لایه‌های نازک را داراست و تاکنون توانسته است پوشش ZnO با ضخامت  ۲۰nm ~ را روی زیر لایه شیشه بررسی نماید.

توسط |۱۳۹۸/۷/۱۰ ۱۲:۴۰:۳۳مهر ۱۰ام, ۱۳۹۸|